單晶組件雙85試驗箱產(chǎn)品特點

1：7英寸寬彩色LCD可編程控制系統(tǒng)，具有制冷PID控制和高速處理能力;

2：樣品在風(fēng)速不低于2mS-1的試驗空間內(nèi)，溫度在-40℃±2℃和85℃±2℃之間循環(huán)

3：可通過局域網(wǎng)監(jiān)控設(shè)備的運行狀態(tài)，更改程序設(shè)置，啟動/停止操作等;

4：恒溫恒濕試驗箱極限試驗范圍可達95℃、98%R.H;

5：可以滿足門的規(guī)格、制冷方式、供水和語言選擇等定制需求。

單晶組件雙85試驗箱試驗是一個簡單的環(huán)境試驗，只需要設(shè)定溫度85℃、相對濕度85%RH以及測試時間一般為1000小時，該試驗一般適用于電子電器行業(yè)、光伏行業(yè)、LED行業(yè)以及太陽能行業(yè)，包括單晶硅組件、地面用晶體硅光伏組件、地面用薄膜光伏組件等一系列光伏組件都需要做該項測試可以再現(xiàn)環(huán)境所產(chǎn)生的破壞性能測試。其次像塑膠行業(yè)、玻璃行業(yè)等也需要做雙85測試，不同的是，玻璃行業(yè)，雙85試驗又被稱為濕凍試驗，不僅包括雙85試驗，同時還包含一段低溫試驗，二者循環(huán)，可以考核玻璃鋼化后的一些性能。

單晶組件雙85試驗箱試驗允許針對在所有預(yù)期環(huán)境條件下長期使用的光伏模塊認證進行多項測試，包括:濕冷凍循環(huán)測試:進行濕度控制且溫度為-40℃~85℃的氣候循環(huán)測試;濕熱測試:專門設(shè)計用干進行長期測試(85℃:相對濕度85%，1000小時)通過雙85試驗箱來確認組件能夠承受高溫高溫之后隨之的負溫度影響，以及對干溫度重復(fù)變化時引起的疲勞和執(zhí)失效，另外確定光伏組件曝露在高溫度下而產(chǎn)生的熱應(yīng)力及能夠抵抗?jié)駳忾L期滲透之能力。

單晶組件雙85試驗箱試驗滿足IEC61215、IEC 61646、GB/T19394-2003、GB/T9535-1998GB/T6492-1986、GB/T6494、GB/T6497SJ/T2196:IEC61345-1998:IEC61646、GB10592-89、GB10586-89等相關(guān)光伏組件標準。